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本技术提供一种MOS器件的测试系统，包括：上位机；电机；数据采集装置，所述数据采集装置与所述上位机相连，所述数据采集装置用于采集所述MOS器件的工作参数和所述电机的输出扭矩并传输至所述上位机；电机驱动装置，所述电机驱动装置与所述数据采集装置...
该专利属于常州银河世纪微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过常州银河世纪微电子股份有限公司授权不得商用。

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