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本技术公开了一种芯片端子外观缺陷检查机，包括：下机架，所述下机架上部固定连接有Y轴载台组件，Y轴载台组件垂直于下机架的前后侧壁，下机架上部还固定连接有X轴检测组件，X轴检测组件跨设在Y轴载台组件上方并与Y轴载台组件垂直；Y轴载台组件进一步包...
该专利属于厦门福信光电集成有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过厦门福信光电集成有限公司授权不得商用。

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