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本发明专利涉及一种基于人工智能的二维材料识别定位系统，包括显微图像获取装置，用于获取二维材料显微图像；二维平面扫描定位寻址装置，用于遍历样品及定位寻址；基于人工智能的计算分析中枢，用于处理显微图像、识别二维材料层数并控制扫描系统扫描与寻址。...
该专利属于南开大学所有，仅供学习研究参考，未经过南开大学授权不得商用。

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