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探测器、辐射成像设备以及安检设备制造技术
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文档序号:41075880
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本发明提供了一种探测器、辐射成像设备以及安检设备。探测器包括:多个区段,多个区段包括第一区段和第二区段。第一区段包括至少第一类型探测器像素,配置成能够提供信号以标定被检物的至少一部分的物质类型。第二区段包括第二类型探测器像素,配置成能够提供...
该专利属于同方威视技术股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过同方威视技术股份有限公司授权不得商用。
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