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一种实施设计表征工具的计算系统，其可以对针对由电路设计描述的集成电路的制造变异的值的分布进行抽样。该设计表征工具可以基于电路设计的预测输出值对样本进行排序，所述电路设计在针对制造变异的值的所述样本中设置有特性。计算系统可以实施模拟仿真器以利...
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