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本发明提供一种电路状态检测的方法和装置，包括以下步骤：外部启动被测试电路，对所述被测试电路进行首次测试；当测试过程中所述被测试电路出现错误时，记录出错时刻；根据所述出错时刻获得输出待观测值的第一切换时刻以及第二切换时刻；其中，所述第一切换时...
该专利属于王振国所有，仅供学习研究参考，未经过王振国授权不得商用。

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