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本发明实施例公开了一种扫焦光场成像测量方法，包括以下步骤：成像系统标定：标定成像系统，获取不同焦面处垂直于成像系统光轴的平面标靶相对于成像系统的位姿参数；图像采集并校正：采用成像系统在已标定的不同焦面处采集图像，根据成像系统的系统参数将采集...
该专利属于深圳大学所有，仅供学习研究参考，未经过深圳大学授权不得商用。

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