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本申请涉及芯片测试领域，公开了一种通用输入输出电气特性参数测试电路，可以测试芯片的输入输出在不同电压下的性能参数。该测试电路包括插板，被配置为耦合到芯片，芯片上设有多个通用输入输出接口。通用输入输出接口，被配置为分别耦合到信号发生器、示波器...
该专利属于上海灵动微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海灵动微电子股份有限公司授权不得商用。

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