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本发明公开了一种多模式转塔测试分选机，涉及到半导体芯片测试分选技术领域，包括机台，机台上设置有转塔，且环绕转塔依次设置的TRAY盘进出料模组，料管进料模组，第一旋转定位模组，视觉模组，视觉五面检测模组，第二旋转定位模组，不良品分类模组，料管...
该专利属于浙江庆鑫科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江庆鑫科技有限公司授权不得商用。

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