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本公开提供一种测量光子集成芯片和光电探测器的相对频率响应的方法，包括：响应于由外部施加在调制器的第一调制臂的扫频信号，对加载在第一调制臂上的第一射频信号进行扫频输出，得到多个由第一调制臂调制输出的第一光载波；响应于由外部施加在调制器的第二调...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。

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