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基于改进的线性反馈移位寄存器的安全测试电路制造技术
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下载基于改进的线性反馈移位寄存器的安全测试电路的技术资料
文档序号:40955695
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本发明属于集成电路硬件安全技术领域,公开了基于改进的线性反馈移位寄存器的安全测试电路,通过控制模块控制改进的线性反馈移位寄存器的状态,利用种子信号产生模块提供改进的线性反馈移位寄存器所需要的种子信号,改进的线性反馈移位寄存器模块输出难以预测...
该专利属于南京邮电大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京邮电大学授权不得商用。
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