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提供一种用于标定扫描成像设备的标定方法，包括：通过探测器采集经过几何标定模体的射线，以获得探测器数据，其中，探测器数据包括射线经过几何标定模体后在探测器上的实际投影位置；获取初始的射线源参数和初始的探测器参数；根据初始的射线源参数、初始的探...
该专利属于同方威视技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视技术股份有限公司授权不得商用。

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