提供一种用于标定扫描成像设备的标定方法，包括：通过探测器采集经过几何标定模体的射线，以获得探测器数据，其中，探测器数据包括射线经过几何标定模体后在探测器上的实际投影位置；获取初始的射线源参数和初始的探测器参数；根据初始的射线源参数、初始的探测器参数以及几何标定模体相对于射线源和探测器的位置关系，通过几何计算获得几何标定模体在探测器上的理论投影位置；构建实际投影位置和理论投影位置之间的偏差关于射线源参数和探测器参数的优化函数；根据优化函数，将偏差取值最小值时对应的射线源参数和探测器参数确定为优化的射线源参数和优化的探测器参数，将优化的射线源参数和优化的探测器参数确定为几何标定参数。
【技术实现步骤摘要】
本公开涉及扫描成像，更具体地，涉及一种用于对扫描成像设备进行几何标定的标定方法和标定系统。
技术介绍
1、根据扫描成像理论，如果要对被扫描物体精确图像重建，必须已知射线源靶点和探测器晶体的精确位置，由于机械制作和安装存在误差，因此几何标定成为扫描成像中必不可少的步骤。
2、例如，以静态ct扫描成像技术为例，根据ct成像理论，如果要对被扫描物体精确ct重建，必须已知射线源靶点和探测器晶体的精确位置，由于机械制作和安装存在误差，因此几何标定成为ct成像中必不可少的步骤。采用分布式射线源或多个单靶点射线源的静态ct，由于射线源本身尺寸较大或数量较多，制作和安装误差也会相应的更大，对成像质量产生较大影响。类似的，探测器也会存在相同的问题，也需要通过几何校正修正几何误差。
3、在本部分中公开的以上信息仅用于对本公开的技术构思的背景的理解，因此，以上信息可包含不构成现有技术的信息。
技术实现思路
1、为解决现有技术中的上述问题，本公开实施例提出一种用于对扫描成像设备进行几何标定的标定方法和标定系统本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于对扫描成像设备进行几何标定的标定方法，所述扫描成像设备包括用于发出射线的射线源和用于接收射线的探测器，在标定过程中，几何标定模体位于所述射线形成的扫描区域中，其特征在于，所述标定方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，根据所述实际投影位置和所述理论投影位置，对所述射线源参数和所述探测器参数进行标定，以获取优化的射线源参数和优化的探测器参数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其中，根据所述实际投影位置和所述理论投影位置，对所述射线源参数和所述探测器参数进行标定，以获取优化的射线源参数和优化的探测器参数，还包括：
>4.根据权利要求1...
【技术特征摘要】
1.一种用于对扫描成像设备进行几何标定的标定方法，所述扫描成像设备包括用于发出射线的射线源和用于接收射线的探测器，在标定过程中，几何标定模体位于所述射线形成的扫描区域中，其特征在于，所述标定方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，根据所述实际投影位置和所述理论投影位置，对所述射线源参数和所述探测器参数进行标定，以获取优化的射线源参数和优化的探测器参数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其中，根据所述实际投影位置和所述理论投影位置，对所述射线源参数和所述探测器参数进行标定，以获取优化的射线源参数和优化的探测器参数，还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述射线源包括ns个靶点，所述ns个靶点沿第一方向间隔分布，其中，ns为大于等于2的正整数；
5.根据权利要求4所述的方法，其中，在所述优化函数中，所述投影位置约束项具有第一权重值，所述靶点距离约束项具有第二权重值。
6.根据权利要求4或5所述的方法，其中，根据所述实际投影位置和所述理论投影位置，对所述射线源参数和所述探测器参数进行标定，以获取优化的射线源参数和优化的探测器参数，还包括：
7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其中，所述标定系统包括旋转台，所述几何标定模体位于所述旋转台上；
8.根据权利要求1-7中任一项所述的方法，其中，所述标定系统包括升降台，所述几何标定模体位于所述升降台上；
9.根据权利要求1-8中任一项所述的方法，其中，所述射线源包括ns个靶点，所述ns个靶点沿第一方向间隔分布，其中，ns为大于等于2的正整数；
10.根据权利要求1-6中任一项所...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈志强，沈乐，张丽，邢宇翔，赵振华，孙运达，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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