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一种超结IGBT器件及其制造方法技术
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文档序号:40947291
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本发明提供了一种超结IGBT器件及其制造方法,具体技术方案为:本发明通过P柱区将超结IGBT的正向导通电流路径和,关断空穴抽取路径及分离,并且将正面P型区与第二P柱区相连,这样形成了纵向PNP结构,在器件短路器件的强集电极发射极电压下开启,...
该专利属于龙腾半导体股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过龙腾半导体股份有限公司授权不得商用。
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