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本申请公开了一种LDMOS制造方法及器件,其中方法包括:S1:提供一形成有P型埋层和N型埋层的衬底,衬底上形成有外延层,外延层表层形成有间隔设置的多对浅沟槽隔离,其中,最靠近N型埋层中心的浅沟槽隔离定义为第一浅沟槽隔离;S2:在第一浅沟槽隔...该专利属于华虹半导体(无锡)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华虹半导体(无锡)有限公司授权不得商用。
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