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本申请公开了一种功率半导体器件测试温度确定方法及系统，方法包括：为试验箱内的器件设置0偏压，并设置试验箱为预设温度和预设相对湿度，待运行第一预设时长后测试器件结温并作为标定结温；将器件的偏压升高到预设比例的阻断电压，并从预设温度调整试验箱的...
该专利属于深圳智芯微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳智芯微电子科技有限公司授权不得商用。

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