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本申请涉及芯片评估技术领域，公开一种用于评估芯片软错误率的方法。该方法包括将待测芯片存储器所在的位置确定为目标测试位置；控制激光诱导辐射装置按照目标辐照策略对目标测试位置施加辐射应力；在确定加速测试参数已预置的情况下，对待测芯片进行加速测试...
该专利属于青岛海尔电冰箱有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过青岛海尔电冰箱有限公司授权不得商用。

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