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本申请涉及一种芯片兼容性验证方法、装置、系统及电子设备，属于集成电路测试技术领域。所述验证方法包括：解析测试用例数据至少得到验证目标兼容性指标的激励数据；基于所述激励数据驱动待测芯片的RTL DUT并获得第一测试信号数据；将所述激励数据发送...
该专利属于山海芯半导体科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山海芯半导体科技（上海）有限公司授权不得商用。

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