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本发明属于X射线衍射分析技术领域，涉及一种利用XRD分析硅铁球中单质硅含量的方法，包括：将参比物粉末与纯硅粉末混合均匀；用XRD扫描所述混合粉末，根据得到的衍射图谱获取参比物粉末与纯硅粉末的定量衍射峰强度，并计算参比物粉末和纯硅粉末的定量衍...
该专利属于山西太钢不锈钢股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山西太钢不锈钢股份有限公司授权不得商用。

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