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一种微型发光器件阵列老化测试系统及方法，涉及发光器件检测。包括老化装置和测试装置；微型发光器件阵列电极插入样品夹具插座与样品夹具表面紧密相连，从焊尾式插座引出线与老化恒流源相连，每个温控载物台依面积大小放若干样品夹具，采集待测样品高光谱图像...
该专利属于厦门大学所有，仅供学习研究参考，未经过厦门大学授权不得商用。

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