一种微型发光器件阵列老化测试系统及方法技术方案

一种微型发光器件阵列老化测试系统及方法，涉及发光器件检测。包括老化装置和测试装置；微型发光器件阵列电极插入样品夹具插座与样品夹具表面紧密相连，从焊尾式插座引出线与老化恒流源相连，每个温控载物台依面积大小放若干样品夹具，采集待测样品高光谱图像数据；在当前温度应力下开始老化实验，经过一定的老化时间对每个微型发光器件阵列进行在线测试，至设定的时间结束，停止该应力下试验；调整温度应力，重复前述老化步骤；采集老化高光谱图像数据；将微型芯片分组取平均光谱；老化过程对不同老化阶段测得的每组芯片平均光谱数据拟合，计算各组芯片指定结温下寿命以及微型阵列中所有芯片平均寿命。保证样品一致性，减少统计偏差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及发光器件检测，尤其是涉及一种微型发光器件阵列老化测试系统及方法。

技术介绍

1、微型发光器件阵列，指微型led(micro/mini-light emitting diode，mled)或微型oled(micro-organic light emitting diode,moled)阵列，是指led/oled进行微小化、薄膜化和阵列化后高度集成的高密度微小尺寸发光器件的阵列。一般微型led/oled尺寸小于100微米。微型发光器件具有自发光、体积小、节能等诸多优势，在可穿戴、可见光通信、生物医学检测等领域有广泛的应用。随着微显示技术的发展，发光器件质量的好坏面临着更多的挑战，对其寿命可靠性的检测变得非常重要。传统的led寿命测试系统在进行老化测试时,由于led尺寸较大，通常采用独立封装，离线检测方式，即led在高温箱老化一定时间后，将led取出并置于积分球内测试(一种led寿命测试系统及其测试方法，申请号：201210055631.4)，或者是使用加热装置和可调电流源对led老化一定时间，在室温下检测其光参数(led寿命测试系统，申请号：20本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种微型发光器件阵列老化测试系统，其特征在于包括老化装置和测试装置；

2.如权利要求1所述一种微型发光器件阵列老化测试系统，其特征在于所述半导体温度控制仪通过导线与温控载物台连接，所述半导体温度控制仪用于控制温控载物台的温度。

3.如权利要求1所述一种微型发光器件阵列老化测试系统，其特征在于所述温控载物台的加热器位于温控载物台台面下方的中空位置，与温控载物台台面紧贴，用于温控载物台的升温，散热器位于加热器下方，用于发散器件工作时产生的热量，保持温控载物台的温度。

4.如权利要求1所述一种微型发光器件阵列老化测试系统，其特征在于所述温控载物台放置在显...

【技术特征摘要】

1.一种微型发光器件阵列老化测试系统，其特征在于包括老化装置和测试装置；

2.如权利要求1所述一种微型发光器件阵列老化测试系统，其特征在于所述半导体温度控制仪通过导线与温控载物台连接，所述半导体温度控制仪用于控制温控载物台的温度。

3.如权利要求1所述一种微型发光器件阵列老化测试系统，其特征在于所述温控载物台的加热器位于温控载物台台面下方的中空位置，与温控载物台台面紧贴，用于温控载物台的升温，散热器位于加热器下方，用于发散器件工作时产生的热量，保持温控载物台的温度。

4.如权利要求1所述一种微型发光器件阵列老化测试系统，其特征在于所述温控载物台放置在显微镜下的机械载物台上，通过机械载物台上的机械载物台旋钮水平方向移动。

5.如权利要求1所述一种微型发光器件阵列老化测试系统，其特征在于所述上部夹具主体设有固定插座螺丝孔和固定底板螺丝孔，固定插座螺丝孔用...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱丽虹，耿全全，史园，庄鹏，陈国龙，吴挺竹，陈忠，吕毅军，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：发明
国别省市：