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本发明公开了一种交互式高速全自动芯片测试机及交互方法，本发明的技术方案提供一种交互式高速全自动芯片测试机，包括交互测试工位，其上设有交互X轴平移机构、检测机构、两组芯片承载机构以及位于芯片承载机构上方的三组视觉定位机构，且三组所述视觉定位机...
该专利属于武汉普赛斯电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉普赛斯电子股份有限公司授权不得商用。

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