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本公开的实施例涉及半导体器件及其制造方法。半导体器件包括:半导体主体,包括衬底、埋层以及外延层,衬底具有第一掺杂类型,埋层具有第二掺杂类型;第一沟槽,从外延层的顶表面延伸到衬底中;第二沟槽,从外延层的顶表面延伸到衬底中;第三沟槽,从外延层的...该专利属于思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司授权不得商用。
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本公开的实施例涉及半导体器件及其制造方法。半导体器件包括:半导体主体,包括衬底、埋层以及外延层,衬底具有第一掺杂类型,埋层具有第二掺杂类型;第一沟槽,从外延层的顶表面延伸到衬底中;第二沟槽,从外延层的顶表面延伸到衬底中;第三沟槽,从外延层的...