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本发明提供一种芯片对比测试装置和方法，属于芯片测试技术领域，装置包括：上位机单元，用于向下位机单元发送测试指令；下位机单元，用于响应于测试指令，通过连接器单元发送测试信号至可替换模组；连接器单元，用于下位机单元和可替换模组间的插拔连接；可替...
该专利属于苏州元脑智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州元脑智能科技有限公司授权不得商用。

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