芯片对比测试装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种芯片对比测试装置和方法，属于芯片测试技术领域，装置包括：上位机单元，用于向下位机单元发送测试指令；下位机单元，用于响应于测试指令，通过连接器单元发送测试信号至可替换模组；连接器单元，用于下位机单元和可替换模组间的插拔连接；可替换模组通过连接器单元与下位机单元连接，并与示波器单元连接，可替换模组为被测芯片所在单元，被测芯片包括被测主芯片和被测替代芯片；示波器单元，用于获取被测芯片对应的测试波形，并将测试波形发送至上位机单元；上位机单元，还用于对测试波形进行对比分析，输出对比分析结果。本发明专利技术可以提高替代芯片测试效率、缩短测试周期和降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试，尤其涉及一种芯片对比测试装置和方法。

技术介绍

1、为了保证交换机和服务器等电子设备量产后的正常供应，通常需要在设计阶段对电子设备中所使用的电子芯片、结构件等进行替代芯片匹配和测试，以便当主芯片出现供应等问题时，及时切换为替代芯片，以保证电子设备的正常供应。

2、当前对替代芯片的测试验证，通常是采用替代芯片板卡打板验证方式，即对设备各板卡中可替换的芯片，在工厂生产时，替换为替代芯片进行印刷电路板组装(printedcircuit board assembly，pcba)生产，pcba生产完成后进行信号测试等验证，这既增加了pcba生产成本，也延长了替代芯片测试周期。

3、因此，亟需一种简单有效芯片对比测试的方式，以满足替代芯片快速测试验证的需求。

技术实现思路

1、本专利技术提供一种芯片对比测试装置和方法，用以解决现有技术中对替代芯片进行测试验证的缺陷。

2、第一方面，本专利技术提供一种芯片对比测试装置，包括：

3、上位机单元、下位机单元本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片对比测试装置，其特征在于，包括：上位机单元、下位机单元、连接器单元、可替换模组、示波器单元和供电单元，其中，

2.根据权利要求1所述的芯片对比测试装置，其特征在于，所述可替换模组包括至少一个类型的插座，所述插座用于固定所述被测芯片，在同一个可替换模组内，所述被测主芯片和被测替代芯片对应的插座类型相同。

3.根据权利要求1所述的芯片对比测试装置，其特征在于，所述上位机单元包括：输入模块、控制模块和数据分析模块，

4.根据权利要求3所述的芯片对比测试装置，其特征在于，所述测试指令用于指示进行信号测试和/或进行功能测试。>

5.根据权利...

【技术特征摘要】

1.一种芯片对比测试装置，其特征在于，包括：上位机单元、下位机单元、连接器单元、可替换模组、示波器单元和供电单元，其中，

2.根据权利要求1所述的芯片对比测试装置，其特征在于，所述可替换模组包括至少一个类型的插座，所述插座用于固定所述被测芯片，在同一个可替换模组内，所述被测主芯片和被测替代芯片对应的插座类型相同。

3.根据权利要求1所述的芯片对比测试装置，其特征在于，所述上位机单元包括：输入模块、控制模块和数据分析模块，

4.根据权利要求3所述的芯片对比测试装置，其特征在于，所述测试指令用于指示进行信号测试和/或进行功能测试。

5.根据权利要求4所述的芯片对比测试装置，其特征在于，在所述测试指令用于指示进行信号测试的情况下，所述上位机单元还用于接收信号测试判定标准，所述下位机单元还用于将...

【专利技术属性】
技术研发人员：张广乐，薛广营，郭月俊，季冬冬，
申请(专利权)人：苏州元脑智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：