温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种高精度高效率的光谱共焦位移测量方法，涉及光学测量领域。可以快速完成光谱信息解算的同时解决现有轴向分辨率低的问题。该方法包括：包括：设置彩色感光元件的位深参数，使来自光源组件的入射光通过分光棱镜、色散透镜组被待测物反射为多个第...
该专利属于西安工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安工业大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。