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本发明涉及一种SiPM阵列生产焊接质量和良品检测方法及装置，属于辐射探测领域。该方法步骤包括：将获得的SiPM阵列中SiPM芯片的实时的IV曲线信息与原始IV曲线信息进行对比，并输出对比结果。装置包括：信息获得模块，用于获得SiPM阵列实时...
该专利属于江苏赛诺格兰医疗科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏赛诺格兰医疗科技有限公司授权不得商用。

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