温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种大米抛光参数的控制方法、装置、设备及存储介质，属于粮食加工技术领域。本发明通过信息采集装置采集大米抛光工序加工参数和大米加工前后的数据，根据所述大米抛光工序加工参数和所述大米加工前后的数据进行分析，剔除异常值，得到初始数据，...
该专利属于武汉轻工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉轻工大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。