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本发明公开了一种基于内置E‑Fuse存储器的芯片测试方法、芯片，该方法包括：在进入OS测试后，检查E‑Fuse是否已完成烧录；如果未完成烧录，则对芯片进行基础校准，确定待烧录数据，将所述待烧录数据烧录至E‑Fuse；如果已完成烧录、或者烧录...
该专利属于上海东软载波微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海东软载波微电子有限公司授权不得商用。

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