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一种声表面滤波器的开发测试方法，属于射频芯片晶圆测试技术领域，本发明的整个晶圆由若干个封装晶粒和若干个GSG晶粒组成，经过外围电路设计的GSG晶粒与封装晶粒的仿真性能一致，利用GSG针进行TRL校准后测试GSG晶粒即可反应封装晶粒的性能，本...
该专利属于北纬三十八度集成电路制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北纬三十八度集成电路制造有限公司授权不得商用。

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