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一种应用于半导体封装管壳的预处理方法技术
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文档序号:40802334
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本发明提供了一种应用于半导体封装管壳的预处理方法,包括以下步骤:S100去除氧化物:先对管壳进行稀盐酸清洗处理,去除管壳芯区焊盘表面的无机氧化物。S200去离子水清洗:将经过稀盐酸清洗处理后的管壳放入去离子水喷淋设备中,对管壳芯区焊盘表面进...
该专利属于河北博威集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过河北博威集成电路有限公司授权不得商用。
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