下载刻蚀方法及半导体工艺设备的技术资料

文档序号:40791458

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本发明涉及半导体制造领域,具体提供一种刻蚀方法及半导体工艺设备。其中,方法包括:向工艺腔室内部通入工艺气体,并使工艺气体与晶圆表面材料进行刻蚀反应,并生成固态生成物;对晶圆进行加热,以使晶圆表面的固态生成物挥发成混合气体,并控制工艺腔室进行...
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