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一种外差式光学相干检测色散测量系统,解决如何提高光波导的色散测量精度及测量范围问题;采用扫频激光器、第一功分器、待测光波导、第二功分器、探测器、数字处理单元依次连接,移频单元与第一功分器连接,移频单元与第二功分器连接,微波源与数字处理单元连...该专利属于中国电子科技集团公司第三十八研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第三十八研究所授权不得商用。
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一种外差式光学相干检测色散测量系统,解决如何提高光波导的色散测量精度及测量范围问题;采用扫频激光器、第一功分器、待测光波导、第二功分器、探测器、数字处理单元依次连接,移频单元与第一功分器连接,移频单元与第二功分器连接,微波源与数字处理单元连...