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本发明提供一种芯片的多功能测试方法及芯片的多功能测试装置，该测试方法包括建立测试装置与待测芯片的IIC连接，测试装置向待测芯片以IIC通信方式发送测试指令，其中，测试指令包括测试模式、引脚映射信息、向量数据的存储地址信息；测试装置以串行方式...
该专利属于珠海鸿芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海鸿芯科技有限公司授权不得商用。

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