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本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及调试方法、装置及存储介质，以解决IO资源紧张的芯片排错难题。本发明实施例提供的调试方法包括，对芯片内部的目标信号源进行采样，获取至少两个目标信号；将所述至少两个目标信号进行合并，得到第一目标信号；通过单个I...
该专利属于炬芯科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过炬芯科技股份有限公司授权不得商用。

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