【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机，尤其涉及调试方法、装置及存储介质。
技术介绍
1、在芯片开发调试过程中，经常需要获取芯片内部的排错(debug)信号进行辅助分析，协助进行芯片调试。
2、目前，一种常见的获取排错信号的方式主要通过串口打印关键的信息，然而该种方式不能打印硬件模块的内部排错信号；另一种常见的获取排错信号的方式主要将硬件模块的内部排错信号直接通过输入输出(input/output，io)资源放出，用逻辑分析仪抓取信号分析，从而帮助分析硬件的工作状态，然而该种方式经常需要占用多个io资源，开销较大等。
3、综上，如何高效获取排错信号，减少io资源占用，是需要解决的技术问题。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供一种调试方法、装置及存储介质，用以解决io资源紧张的芯片排错难题。
2、第一方面，本专利技术实施例提供一种调试方法，包括：
3、对芯片内部的目标信号源进行采样，获取至少两个目标信号；
4、将所述至少两个目标信号进行合并，得到
【技术保护点】
1.一种调试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标信号包括所述芯片内部的排错信号。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对芯片内部的目标信号源进行采样，获取至少两个目标信号，包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，将所述至少两个目标信号进行合并，得到第一目标信号，包括：
6.如权利要求1～4中任一项所述的方法，其特征在于，通过单个输入输出IO资源输出所述第一目标信号，包括：
7.如权利要求...
【技术特征摘要】
1.一种调试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标信号包括所述芯片内部的排错信号。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对芯片内部的目标信号源进行采样，获取至少两个目标信号，包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，将所述至少两个目标信号进行合并，得到第一目标信号，包括：
6.如权利要求1～4中任一项所述的方法，其特征在于，通过单个输入输出io资源输出所述第一目标信号，包括：...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭国杰，魏华铭，
申请(专利权)人：炬芯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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