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本申请实施例提供了一种单晶硅的生产控制方法、装置、电子设备及存储介质，属于半导体技术领域。其中方法包括：获取坩埚内直径值；对待测单晶硅进行直径校准，获取偏差值；根据所述偏差值获取偏差百分比；判断所述偏差百分比是否小于偏差阈值；若所述偏差百分...
该专利属于甘肃瓜州宝丰硅材料开发有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过甘肃瓜州宝丰硅材料开发有限公司授权不得商用。

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