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本技术提供一种芯片测试装置，包括：旋转台，每个工位的旋转台上设置至少一个芯片测试座。滑环包括电刷组件和导电环组件。每个工位上的所有芯片对应的加热信号和温度检测信号均电连接至各自工位对应的电刷导线组，每个工位上的芯片测试座与各自对应的电刷导线...
该专利属于豪威半导体（太仓）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过豪威半导体（太仓）有限公司授权不得商用。

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