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本说明书涉及集成电路测试领域，尤其是模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备，所述方法包括根据输入至模拟集成电路的测试向量集，确定测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度；根据测试向量集中相关度最高的测试向量构建排序向量集合；计算...
该专利属于深圳先进技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过深圳先进技术研究院授权不得商用。

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