【技术实现步骤摘要】
本说明书涉及集成电路测试领域，尤其是模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备。
技术介绍
1、随着集成电路规模的增大，测试数据多、测试时间长已经成为影响测试成本和测试效率的关键问题。目前在集成电路的生产性测试中，往往采用“首败即停”的测试规则，即在如果芯片在某个测试项或者测试向量上未通过测试，将不再进行后续测试项或者测试向量的测试。这样做一方面可以避免对故障芯片进行不必要的测试，降低测试时间；另一方面，可以降低对测试机台的使用强度，延长设备的使用寿命和使用成本。
2、通常模拟电路参数测试阶段所产生的数据维度较高，存在对故障检测贡献不大的冗余测试项。若冗余测试项保留过多，将会导致测试时间和测试成本的显著上升。过多的冗余测试项也会导致特征矢量维数过多，不利于最终的电路故障判决。
技术实现思路
1、为解决上述现有技术冗余测试项过多，导致测试时间和成本上升的问题，本说明书实施例提供了模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备。
2、本说明书实施例公开了一种模拟集成...
【技术保护点】
1.一种模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，确定所述测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度包括：
3.根据权利要求2所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，计算所述测试向量集中除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量的相对于所述排序向量集合的冗余度包括：
5.根据权利要求4所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，在计算所述...
【技术特征摘要】
1.一种模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，确定所述测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度包括：
3.根据权利要求2所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，计算所述测试向量集中除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量的相对于所述排序向量集合的冗余度包括：
5.根据权利要求4所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，在计算所述冗余度之后、计算贡献度之前，所述方法还包括：
6.根据权利要求4所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，计算各测试向量对应的贡献度包括：
7.根据权利要求6所述的模拟集成电路测试向量排序方...
【专利技术属性】
技术研发人员：邵翠萍，李文浩，李慧云，
申请(专利权)人：深圳先进技术研究院，
类型：发明
国别省市：
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