【技术实现步骤摘要】
本说明书涉及集成电路测试领域，尤其是模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备。
技术介绍
1、随着集成电路规模的增大，测试数据多、测试时间长已经成为影响测试成本和测试效率的关键问题。目前在集成电路的生产性测试中，往往采用“首败即停”的测试规则，即在如果芯片在某个测试项或者测试向量上未通过测试，将不再进行后续测试项或者测试向量的测试。这样做一方面可以避免对故障芯片进行不必要的测试，降低测试时间；另一方面，可以降低对测试机台的使用强度，延长设备的使用寿命和使用成本。
2、通常模拟电路参数测试阶段所产生的数据维度较高，存在对故障检测贡献不大的冗余测试项。若冗余测试项保留过多，将会导致测试时间和测试成本的显著上升。过多的冗余测试项也会导致特征矢量维数过多，不利于最终的电路故障判决。
技术实现思路
1、为解决上述现有技术冗余测试项过多，导致测试时间和成本上升的问题，本说明书实施例提供了模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备。
2、本说明书实施例公开了一种模拟集成电路测试向量排序方法，所述方法包括：根据输入至模拟集成电路的测试向量集，确定所述测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度；根据所述测试向量集中相关度最高的测试向量构建排序向量集合；计算所述测试向量集中除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量的相对于所述排序向量集合的冗余度；根据每个测试向量的冗余度计算该测试向量相对于所述排序向量集合的贡献度，根据所述贡献度更新所述排序向量集合，形成优化
3、根据本说明书实施例的一个方面，确定所述测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度包括：分别计算测试向量集中，每一测试向量的频率组中的测试频点与所述目标测试频点的差值，得到每一测试向量的多个差值；分别计算每一测试向量的多个差值中的最小差值对应的测试频点的相关度，所述相关度表示测试向量与目标测试频点的相关度。
4、根据本说明书实施例的一个方面，所述方法还包括：根据如下公式，确定测试向量与目标测试频点的相关度：其中，s表示测试向量的频率组，f_testi表示频率组中的第i个测试频点，fp表示目标测试频点。
5、根据本说明书实施例的一个方面，计算所述测试向量集中除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量的相对于所述排序向量集合的冗余度包括：
6、利用如下公式分别计算除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量相对于排序向量集合中每一个测试向量的冗余度：
7、其中，xi表示除相关度最高的测试向量以外的其他测试向量中的某一测试向量的第i个激励波形，yi表示排序向量集合中某一测试向量中的第i个激励波形，表示激励波形xi对应的测试向量中的某一测试向量的所有激励波形的平均值，表示激励波形yi对应的测试向量的所有激励波形的平均值，n表示各测试向量中激励波形的总数量。根据测试向量与排序向量集合中所有测试向量的冗余度之和，确定测试向量与所述排序向量集合的冗余度。
8、根据本说明书实施例的一个方面，根据相关度最高的测试向量、各测试向量与目标测试频点的相关度，构建排序向量集合包括：将所述相关度最高的测试向量作为排序向量集合的第一个向量。
9、根据本说明书实施例的一个方面，计算各测试向量对应的贡献度包括：根据测试向量与所述排序向量集合的冗余度、测试向量与目标测试频点的相关度，确定测试向量对应的贡献度。
10、根据本说明书实施例的一个方面，根据所述贡献度更新所述排序向量集合，形成优化测试向量集包括：根据贡献度的值，按照从大到小的顺序依次排列测试向量，形成优化测试向量集。
11、根据本说明书实施例的一个方面，根据所述优化测试向量集，对模拟集成电路在所述目标测试频点进行测试包括：根据优化测试向量集中所有测试向量的顺序，依次将优化测试向量集中测试向量对应的模拟信号输入至模拟集成电路，得到模拟集成电路的输出结果；根据输出结果判断模拟集成电路是否故障；若是，判断测试完毕；若否，根据优化测试向量集中所有测试向量的顺序，继续测试模拟集成电路。
12、根据本说明书实施例的一个方面，当对模拟集成电路的某一目测测试频点测试完成后，所述方法进一步包括：分别确定其他目标测试频点的优化测试向量集；根据其他目标测试频点的优化测试向量集，对模拟集成电路在其他目标测试频点进行测试。
13、本说明书实施例还公开了模拟集成电路测试向量排序装置，所述装置包括：相关度确定单元，用于根据输入至模拟集成电路的测试向量集，确定所述测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度；排序向量构建单元，用于根据所述测试向量集中相关度最高的测试向量构建排序向量集合；计算单元，用于计算所述测试向量集中除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量的相对于所述排序向量集合的冗余度；优化测试向量集形成单元，用于根据每个测试向量的冗余度计算该测试向量相对于所述排序向量集合的贡献度，根据所述贡献度更新所述排序向量集合，形成优化测试向量集；测试单元，用于根据所述优化测试向量集，对模拟集成电路在所述目标测试频点进行测试。
14、本说明书实施例还提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述模拟集成电路测试向量排序方法。
15、本说明书实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备方法。
16、本说明书根据测试向量对故障检测贡献度的不同，对测试向量进行排序，从向量集合中挑选出尽可能高的故障分辨率与覆盖率的测试特征来组成最优特征集合。根据最优特征集合进行实际测试，最大化节省测试成本，优化测试流程。
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1.一种模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，确定所述测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度包括：
3.根据权利要求2所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，计算所述测试向量集中除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量的相对于所述排序向量集合的冗余度包括：
5.根据权利要求4所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，在计算所述冗余度之后、计算贡献度之前，所述方法还包括：
6.根据权利要求4所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，计算各测试向量对应的贡献度包括：
7.根据权利要求6所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，根据所述贡献度更新所述排序向量集合，形成优化测试向量集包括：
8.根据权利要求1所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，根据所述优化测试向量集，对模拟集成电路在所述
9.根据权利要求8所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，当对模拟集成电路的某一目测测试频点测试完成后，所述方法进一步包括：
10.一种模拟集成电路测试向量排序装置，其特征在于，所述装置包括：
11.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至9任一项所述的方法。
12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至9任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，确定所述测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度包括：
3.根据权利要求2所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，计算所述测试向量集中除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量的相对于所述排序向量集合的冗余度包括：
5.根据权利要求4所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，在计算所述冗余度之后、计算贡献度之前，所述方法还包括：
6.根据权利要求4所述的模拟集成电路测试向量排序方法，其特征在于，计算各测试向量对应的贡献度包括：
7.根据权利要求6所述的模拟集成电路测试向量排序方...
【专利技术属性】
技术研发人员：邵翠萍，李文浩，李慧云，
申请(专利权)人：深圳先进技术研究院，
类型：发明
国别省市：
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