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本发明公开了多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统及测试方法，属于芯片自动化测试设备领域。包括全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块、ALPG MUX多路选择器和信号调制模块；所述全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块...
该专利属于合肥精智达集成电路技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥精智达集成电路技术有限公司授权不得商用。

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