多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统及测试方法技术方案

本发明专利技术公开了多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统及测试方法，属于芯片自动化测试设备领域。包括全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块、ALPG MUX多路选择器和信号调制模块；所述全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块均与ATE的测试平台系统的交互接口通信连接，全功能ALPG模块的输出端、高频单路模式专用ALPG模块的输出端和ALPG MUX多路选择器通信连接。ALPG MUX多路选择器和信号调制模块通信连接，信号调制模块输出端和被测器件DUT连接。本发明专利技术通过增加新增高频单路模式专用ALPG模块实现高频率单路模式下对芯片进行测试，本发明专利技术降低了ALPG的FPGA编程的难度，也实现了客户的单路模式高于300MHz频率的需求，也降低了FPGA硬件的要求，方便了FPGA的选型，提高工作的效果和效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片自动化测试设备，具体是多路交织的ate支持高频率单路模式的系统及测试方法。

技术介绍

1、芯片自动化测试设备即ate是芯片生产过程中对生产出的ic集成电路芯片进行质量检测的设备，主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展ic测试，有着重要的意义。而测试向量作为ic测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。

2、业界为了能测试高频率的ic芯片，提出了交织和多路的技术。方法是一个周期的pattern指令中，包含多个并行执行的子周期指令。多路交织模式时，其中的部件程序指令执行模块alpg的信号，能提高多倍输出到被被测器件dut，程序指令执行模块alpg的运行频率不需要很高，一般只需要100-300mhz。但支持多路交织模式的芯片自动化测试设备，也需要支持单路模式，而且需要单路模式时，输出高于300mhz频率的信号，单路模式下无法利用多路输出方法提升频率，所以需要程序指令执行模块本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统，其特征在于，包括全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块、ALPG MUX多路选择器和信号调制模块；

2.根据权利要求1所述的多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统，其特征在于，所述ATE的测试平台系统中设有通用CPU和用于对芯片检测的软件系统模块，测试平台系统通过通用CPU和软件系统模块对集成电路芯片进行质量检测。

3.根据权利要求2所述的多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统，其特征在于，所述信号调制模块包括程序数据选择器PDS。

4.根据权利要求3所述的多路交织的ATE支持高频率单路模式的...

【技术特征摘要】

1.多路交织的ate支持高频率单路模式的系统，其特征在于，包括全功能alpg模块、高频单路模式专用alpg模块、alpg mux多路选择器和信号调制模块；

2.根据权利要求1所述的多路交织的ate支持高频率单路模式的系统，其特征在于，所述ate的测试平台系统中设有通用cpu和用于对芯片检测的软件系统模块，测试平台系统通过通用cpu和软件系统模块对集成电路芯片进行质量检测。

3.根据权利要求2所述的多路交织的at...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢国军，张滨，
申请(专利权)人：合肥精智达集成电路技术有限公司，
类型：发明
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