【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片自动化测试设备，具体是多路交织的ate支持高频率单路模式的系统及测试方法。
技术介绍
1、芯片自动化测试设备即ate是芯片生产过程中对生产出的ic集成电路芯片进行质量检测的设备，主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展ic测试，有着重要的意义。而测试向量作为ic测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。
2、业界为了能测试高频率的ic芯片，提出了交织和多路的技术。方法是一个周期的pattern指令中，包含多个并行执行的子周期指令。多路交织模式时，其中的部件程序指令执行模块alpg的信号，能提高多倍输出到被被测器件dut，程序指令执行模块alpg的运行频率不需要很高，一般只需要100-300mhz。但支持多路交织模式的芯片自动化测试设备，也需要支持单路模式，而且需要单路模式时，输出高于300mhz频率的信号，单路模式下无法利用多路输出方法提升频率，所以需要程序指令执行模块alpg本身的运行频率提高到300mhz以上。
3、程序指令执行模块alpg一般是通过现场可编程门阵列fpga编程来实现，为了支持多路交织模式，alpg的功能会变得复杂，支持多路交织模式的alpg，一般需要很复杂的措施来优化fpga编码将运行频率提到300mhz以上，频率再高技术难度越大，但厂商在单路更高频率需求时，不会用到很多复杂指令，这样就可以对这种单路高频做专
技术实现思路
1、对于现有存在的一些问题，本专利技术的目的在于提供多路交织的ate支持高频率单路模式的系统及测试方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
3、一种多路交织的ate支持高频率单路模式的系统，包括全功能alpg模块、高频单路模式专用alpg模块、alpg mux多路选择器和信号调制模块；
4、所述全功能alpg模块和ate的测试平台系统的交互接口通信连接，测试平台系统用于对集成电路芯片进行质量检测；全功能alpg模块用于支持多路交织模式和普通单路模式下的芯片测试；
5、所述高频单路模式专用alpg模块和ate的测试平台系统的交互接口通信连接，高频单路模式专用alpg模块用用于支持高频单路模式下的芯片测试；
6、所述全功能alpg模块的输出端和alpg mux多路选择器的多路信号通道通信连接，alpg mux多路选择器的多路信号通道用于接收算法向量程序pattern的多路信号以及普通的单路信号；
7、所述高频单路模式专用alpg模块的输出端和alpg mux多路选择器的单路信号通道通信连接，alpg mux多路选择器的单路信号通道用于接收算法向量程序pattern的高频单路信号；
8、所述alpg mux多路选择器和信号调制模块通信连接，信号调制模块用于对信号进行调制；
9、所述信号调制模块输出端和被测器件dut连接，调制后的信号当做测试向量，传输到被测器件dut中，用于对被测器件dut进行测试。
10、作为本专利技术进一步的方案：所述ate的测试平台系统中设有通用cpu和用于对芯片检测的软件系统模块，测试平台系统通过通用cpu和软件系统模块对集成电路芯片进行质量检测。
11、作为本专利技术进一步的方案：所述信号调制模块包括程序数据选择器pds。
12、作为本专利技术进一步的方案：所述alpg mux多路选择器和ate的测试平台系统通信连接，测试平台系统用于控制alpg mux多路选择器多路信号通道或单路信号通道的开关。
13、一种多路交织的ate支持高频率单路模式的系统的方法，其方法步骤如下：
14、s1、ate中的测试平台系统控制选择全功能alpg模块或高频单路模式专用alpg模块，测试平台系统加载pattern程序到全功能alpg模块或高频单路模式专用alpg模块的指令内存空间，设置和读取全功能alpg模块或高频单路模式专用alpg模块中的各类寄存器，启动、停止全功能alpg模块或高频单路模式专用alpg模块运行，查询全功能alpg模块或高频单路模式专用alpg模块的工作状态；
15、s2、测试平台系统选择全功能alpg模块或高频单路模式专用alpg模块后，控制alpg mux多路选择器打开当前选择的alpg模块或高频单路模式专用alpg模块对应的选择多路信号通道或单路信号通道的开关；
16、s3、测试平台系统启动当前选择的全功能alpg模块或高频单路模式专用alpg模块进行运行；
17、s4、alpg mux多路选择器连通测试平台系统当前选择的全功能alpg模块或高频单路模式专用alpg模块的通道，全功能alpg模块或高频单路模式专用alpg模块的通道将信号传输至信号调制模块，信号调制模块调制信号后输入到被测器件dut，用于对被测器件dut进行测试。
18、与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
19、本专利技术在现有的ate中多路交织的算法向量程序pattern的模式中，新增高频单路模式专用alpg模块；当需要高频单路输出的情况下，pattern程序编译后，运行时需要加载到高频单路模式专用alpg模块运行；当单路输出不需要高频时，可以选择全功能alpg模块中的单路模式进行运行；通过增加新增高频单路模式专用alpg模块实现高频率单路模式下对芯片进行测试，本专利技术降低了alpg的fpga编程的难度，也实现了客户的单路模式300mhz以上频率的需求，也降低了fpga硬件的要求，方便了fpga的选型，提高工作的效果和效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统，其特征在于，包括全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块、ALPG MUX多路选择器和信号调制模块；
2.根据权利要求1所述的多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统，其特征在于，所述ATE的测试平台系统中设有通用CPU和用于对芯片检测的软件系统模块，测试平台系统通过通用CPU和软件系统模块对集成电路芯片进行质量检测。
3.根据权利要求2所述的多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统，其特征在于，所述信号调制模块包括程序数据选择器PDS。
4.根据权利要求3所述的多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统，其特征在于，所述ALPG MUX多路选择器和ATE的测试平台系统通信连接，测试平台系统用于控制ALPG MUX多路选择器多路信号通道或单路信号通道的开关。
5.权利要求1-4任一所述的多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统的测试方法，其特征在于，其方法步骤如下：
【技术特征摘要】
1.多路交织的ate支持高频率单路模式的系统，其特征在于，包括全功能alpg模块、高频单路模式专用alpg模块、alpg mux多路选择器和信号调制模块；
2.根据权利要求1所述的多路交织的ate支持高频率单路模式的系统，其特征在于，所述ate的测试平台系统中设有通用cpu和用于对芯片检测的软件系统模块，测试平台系统通过通用cpu和软件系统模块对集成电路芯片进行质量检测。
3.根据权利要求2所述的多路交织的at...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢国军，张滨，
申请(专利权)人：合肥精智达集成电路技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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