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本发明公开了一种基于透射电镜的晶粒三维表征方法，首先通过透射电镜获取样品的晶粒系列倾转角度下的图像，重构晶粒的三维图像，并获得样品坐标系下晶粒的界面信息，然后倾转样品使其分别处于三个非共线晶带轴方向并获得倾转参量，根据三个非共线晶带轴的取向...
该专利属于重庆大学所有，仅供学习研究参考，未经过重庆大学授权不得商用。

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