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一种半导体芯片测试机制造技术
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下载一种半导体芯片测试机的技术资料
文档序号:40739052
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本发明提供了一种半导体芯片测试机,包括测试台,测试台台面上方设置有活动板,活动板受驱沿竖直方向运动,且底部设置有转盘,以及驱使转盘转动的驱动机构,转盘的转为间歇性,且每次转动角度为九十度;转盘底部固定安装有L形板,L形板的水平部和竖直部内侧...
该专利属于芜湖华沅微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过芜湖华沅微电子有限公司授权不得商用。
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