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本发明涉及颗粒沉降速度测试技术领域，尤其涉及一种环境细颗粒物暴露荧光模拟示踪的沉降速度测试方法，步骤S1，准备各项检测装置并搭建封闭检测环境；步骤S2，进行主动吸入荧光模拟采样和被动沉降荧光模拟采样；步骤S3，获取主动吸入图像和被动沉降图像...
该专利属于河北工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过河北工业大学授权不得商用。

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