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本发明公开了一种改进的光功率分配器插入损耗测试方法及装置，涉及硅光子器件测试领域，其技术方案要点是：在级联的每个光功率分配器中，分别选取一个具有相同光功率分配比值的空闲光输出端作为检测端作为检测端，使上述检测端依次与多个光电探测器耦合，控制...
该专利属于无锡芯光互连技术研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡芯光互连技术研究院有限公司授权不得商用。

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