温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本技术属于芯片测试技术领域，且公开了一种芯片测试针架，包括测试台，所述测试台的上方设有顶板，所述测试台与顶板之间设有支撑杆，所述支撑杆竖直位于测试台的顶部两侧，所述顶板的下方设有升降板，本技术通过设置芯片放置框、压力传感器、升降板、滑动组件...
该专利属于深圳市佰誉科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市佰誉科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。