一种芯片测试针架制造技术

本技术属于芯片测试技术领域，且公开了一种芯片测试针架，包括测试台，所述测试台的上方设有顶板，所述测试台与顶板之间设有支撑杆，所述支撑杆竖直位于测试台的顶部两侧，所述顶板的下方设有升降板，本技术通过设置芯片放置框、压力传感器、升降板、滑动组件和电动升降杆等，使用时，先将芯片放入芯片放置框内，随后启动电动升降杆带动升降板向下移动，在升降板移动的过程中设置的滑动组件使其平稳的向下移动，避免了测试探针移动时发生晃动，同时在测试探针接触到芯片后芯片会给压力传感器施加压力，通过压力传感器可判断测试探针与芯片是否接触到位，接触到位后电动升降杆停止工作，从而精准的对芯片进行检测。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于芯片测试，具体涉及一种芯片测试针架。

技术介绍

1、半导体芯片在研发和批量生产过程中，必须经过电气方面的性能测试，以检验芯片是否能满足要求。芯片测试针架是测试装置中的关键部件，它为芯片在测试时提供定位；传递芯片及测试线路板之间的电子讯号及电流。测试针架性能的优劣直接影响芯片测试的可靠性和准确性。

2、在使用探针进行检测时一般需要将探针放置在支架上工作人员进行手动操控探针纵向移动对芯片进行检测，这种支架容易在探针移动时发生晃动同时下压的力度也无法精确的掌控，容易导致检测结果不准确以及损坏芯片的问题。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种芯片测试针架，以解决上述
技术介绍
中提出的探针支架容易在探针移动时发生晃动同时下压的力度也无法精确的掌控，容易导致检测结果不准确以及损坏芯片问题。

2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片测试针架，包括：

3、测试台，所述测试台的上方设有顶板，所述测试台与顶板之间设有支撑杆，所述支撑杆竖直位于测试台的顶部两侧，所述顶板的下方设有升降板，所述升降板的底部设有安装板，所述安装板下安装有测试探针，所述顶板与升降板之间设有升降组件，所述升降板与支撑杆之间设有滑动组件，所述测试台的顶部设有芯片放置框，所述测试台的顶部且位于芯片放置框内安装有压力传感器，所述芯片放置框内设于限位组件，所述限位组件用于对芯片放置框内的芯片进行限位。

4、优选的，所述升降组件为电动升降杆，所述电动升降杆安装在顶板的底部中心处，所述电动升降杆的伸缩端与升降板的顶部中心处相连。

5、优选的，所述滑动组件为滑槽，所述滑槽开设在升降板的内部两侧，所述滑槽可滑动的套设在支撑杆的外部。

6、优选的，所述限位组件为限位板，所述限位板设于芯片放置框的内壁两侧，所述芯片放置框内设有转动组件，所述转动组件用于实现两个限位板在芯片放置框内的相向移动。

7、优选的，所述转动组件包括螺纹槽和螺纹杆，所述螺纹槽开设在芯片放置框的内部两侧，所述螺纹杆设于螺纹槽内，所述螺纹杆的一端与限位板的一端相连，所述螺纹杆与限位板之间设有连接组件。

8、优选的，所述连接组件包括t型槽和t型杆，所述t型槽开设在螺纹杆靠近限位板的一端，所述t型杆设于限位板的一侧，所述t型杆嵌至t型槽内。

9、与现有技术相比，本技术的有益效果是：

10、(1)本技术通过设置芯片放置框、压力传感器、升降板、滑动组件和电动升降杆等，使用时，先将芯片放入芯片放置框内，随后启动电动升降杆带动升降板向下移动，在升降板移动的过程中设置的滑动组件使其平稳的向下移动，避免了测试探针移动时发生晃动，同时在测试探针接触到芯片后芯片会给压力传感器施加压力，通过压力传感器可判断测试探针与芯片是否接触到位，接触到位后电动升降杆停止工作，从而精准的对芯片进行检测。

11、(2)本技术通过在芯片放置框的内壁两侧设置限位板，两个限位板可通过转动组件使两个限位板在芯片放置框内相向的移动，从而对放入芯片放置框内不同大小的芯片进行固定，避免芯片易在芯片放置框移动，导致检测准确的情况发生，提高了该装置的实用性，便于对不同大小的芯片进行固定检测。

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【技术保护点】

1.一种芯片测试针架，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试针架，其特征在于：所述升降组件为电动升降杆(7)，所述电动升降杆(7)安装在顶板(2)的底部中心处，所述电动升降杆(7)的伸缩端与升降板(4)的顶部中心处相连。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试针架，其特征在于：所述滑动组件为滑动组件为滑槽(8)，所述滑槽(8)开设在升降板(4)的内部两侧，所述滑槽(8)可滑动的套设在支撑杆(3)的外部。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试针架，其特征在于：所述限位组件为限位板(11)，所述限位板(11)设于芯片放置框(9)的内壁两侧，所述芯片放置框(9)内设有转动组件，所述转动组件用于实现两个限位板(11)在芯片放置框(9)内的相向移动。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试针架，其特征在于：所述转动组件包括螺纹槽(12)和螺纹杆(13)，所述螺纹槽(12)开设在芯片放置框(9)的内部两侧，所述螺纹杆(13)设于螺纹槽(12)内，所述螺纹杆(13)的一端与限位板(11)的一端相连，所述螺纹杆(13)与限位板(11)之间设有连接组件。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试针架，其特征在于：所述连接组件包括T型槽(14)和T型杆(15)，所述T型槽(14)开设在螺纹杆(13)靠近限位板(11)的一端，所述T型杆(15)设于限位板(11)的一侧，所述T型杆(15)嵌至T型槽(14)内。

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【技术特征摘要】

1.一种芯片测试针架，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试针架，其特征在于：所述升降组件为电动升降杆(7)，所述电动升降杆(7)安装在顶板(2)的底部中心处，所述电动升降杆(7)的伸缩端与升降板(4)的顶部中心处相连。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试针架，其特征在于：所述滑动组件为滑动组件为滑槽(8)，所述滑槽(8)开设在升降板(4)的内部两侧，所述滑槽(8)可滑动的套设在支撑杆(3)的外部。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试针架，其特征在于：所述限位组件为限位板(11)，所述限位板(11)设于芯片放置框(9)的内壁两侧，所述芯片放置框(9)内设有转动组件，所述转动...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆冀成，陈明，
申请(专利权)人：深圳市佰誉科技有限公司，
类型：新型
国别省市：