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本技术涉及一种芯片测试座，其包括底座、测试座和调节机构，测试座设置在底座上，测试座包括测试座一和测试座二，测试座一固定设置在所述底座上，测试座二滑动设置在底座上，测试座一上设置有放置槽，放置槽的内壁开设有若干引脚槽，测试座二相对的一侧也设置...
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