【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试的领域，尤其是涉及一种芯片测试座。
技术介绍
1、在芯片成品生产之后、进入市场之前，必须要进行测试，测试无误的芯片才能进入市场。测试方式是将测试芯片的每个引脚与测试电路板上对应的触点接触，通电测试电路板的导通情况，一般电路板上的元器件都是通过焊接的方式与电路板固定接触的，测试芯片由于频繁更换，导致其无法焊接在测试电路板上进行测试，因此就需要借助测试座。现有的测试座辅助芯片的方式是，芯片的引脚插入测试座上开设的引脚插槽内固定，并露出测试座的底部，测试座固定在测试电路板的指定位置正上方后，芯片的引脚正好接触到测试电路板上对应的触点。
2、现有的芯片测试座的测试槽大小都是固定的，因此无法适配不同大小尺寸的芯片，实际操作非常不便，因此有必要设计一种芯片测试座。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，本技术提供一种芯片测试座。
2、本技术提供的一种芯片测试座采用如下的技术方案：
3、一种芯片测试座，包括底座和测试座，所述测试座设置在所述底座上，所述测试座包括测试座一和测试座二，所述测试座一固定设置在所述底座上，所述测试座二滑动设置在所述底座上，所述测试座一上设置有放置槽，所述放置槽的内壁开设有若干引脚槽，所述测试座二相对的一侧也设置有若干引脚槽。
4、可选的，还包括调节机构，所述调节机构包括固定座、螺杆、弹簧、限位片和螺母，所述螺杆的两端分别连接所述固定座，所述固定座设置在所述底座上，所述螺母设置在所述螺杆上。
6、可选的，所述引脚槽内设置有弹簧顶针。
7、可选的，所述螺杆设置有两组，两组所述螺杆分别设置在测试座的两侧。
8、可选的，所述螺杆贯穿所述测试座二，所述螺杆的一端连接所述测试座一，所述螺杆的另一端连接所述固定座，所述测试座二设置在所述测试座一和固定座之间。
9、可选的，所述测试座二与所述螺杆滑动配合。
10、可选的，所述螺母与螺杆螺纹连接，并且所述螺母设置在所述测试座二和固定座之间。
11、综上所述，本技术包括以下有益技术效果：
12、1.通过旋拧螺母，可以调节测试座二和测试座一之间的距离，当测试的芯片规格较小时，旋拧螺母使之向测试座一移动，此时可带动连接块挤压弹簧，测试座二与测试座一之间距离较小，当测试的芯片尺寸较大时，旋拧螺母使之向远离测试座一的方向移动，弹簧将测试座二顶开后，将芯片安装在放置槽内，芯片的引脚分别插入引脚槽中即可，操作灵活，实用方便。
13、2.通过旋拧螺母，螺母可以在螺杆上水平移动，螺母抵接测试座二，因此螺母可以带动测试座二在螺杆的光滑段上向测试座一移动，当移动到适当的位置后，停止旋拧螺母，从而实现对测试座一和测试座二之间距离的调节，当测试座一和测试座二之间距离较小时，同样旋拧螺母，测试座二在弹簧复位的作用下，将测试座二推向远离测试座一的方向，实现对测试座二和测试座一之间距离的自由调节。
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1.一种芯片测试座，其特征在于：包括底座(1)和测试座，所述测试座设置在所述底座(1)上，所述测试座包括测试座一(2)和测试座二(3)，所述测试座一(2)固定设置在所述底座(1)上，所述测试座二(3)滑动设置在所述底座(1)上，所述测试座一(2)上设置有放置槽(4)，所述放置槽(4)的内壁开设有若干引脚槽(7)，所述测试座二(3)相对的一侧也设置有若干引脚槽(7)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：还包括调节机构(5)，所述调节机构(5)包括固定座(51)、螺杆(52)、弹簧(53)、限位片(54)和螺母(55)，所述螺杆(52)的两端分别连接所述固定座(51)，所述固定座(51)设置在所述底座(1)上，所述螺母(55)设置在所述螺杆(52)上。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述测试座二(3)的外壁上设置有连接块(6)，所述连接块(6)上开设有通孔，所述螺杆(52)穿过所述通孔，所述螺母(55)抵接所述连接块(6)，所述限位片(54)固定在所述螺杆(52)上，所述弹簧(53)套设在螺杆(52)上，所述弹簧(53)
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述引脚槽(7)内设置有弹簧(53)顶针。
5.根据权利要求3所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述螺杆(52)设置有两组，两组所述螺杆(52)分别设置在测试座的两侧。
6.根据权利要求2所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述螺杆(52)贯穿所述测试座二(3)，所述螺杆(52)的一端连接所述测试座一(2)，所述螺杆(52)的另一端连接所述固定座(51)，所述测试座二(3)设置在所述测试座一(2)和固定座(51)之间。
7.根据权利要求6所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述测试座二(3)与所述螺杆(52)滑动配合。
8.根据权利要求6所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述螺母(55)与螺杆(52)螺纹连接，并且所述螺母(55)设置在所述测试座二(3)和固定座(51)之间。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试座，其特征在于：包括底座(1)和测试座，所述测试座设置在所述底座(1)上，所述测试座包括测试座一(2)和测试座二(3)，所述测试座一(2)固定设置在所述底座(1)上，所述测试座二(3)滑动设置在所述底座(1)上，所述测试座一(2)上设置有放置槽(4)，所述放置槽(4)的内壁开设有若干引脚槽(7)，所述测试座二(3)相对的一侧也设置有若干引脚槽(7)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：还包括调节机构(5)，所述调节机构(5)包括固定座(51)、螺杆(52)、弹簧(53)、限位片(54)和螺母(55)，所述螺杆(52)的两端分别连接所述固定座(51)，所述固定座(51)设置在所述底座(1)上，所述螺母(55)设置在所述螺杆(52)上。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述测试座二(3)的外壁上设置有连接块(6)，所述连接块(6)上开设有通孔，所述螺杆(52)穿过所述通孔，所述螺母(55)抵接所述连接块(6)，所述限位片(54)固定在所述螺杆(5...
【专利技术属性】
技术研发人员：冷祥，刘志华，凡皓雪，
申请(专利权)人：无锡市华辰芯光半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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