【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试的领域，尤其是涉及一种芯片测试座。
技术介绍
1、在芯片成品生产之后、进入市场之前，必须要进行测试，测试无误的芯片才能进入市场。测试方式是将测试芯片的每个引脚与测试电路板上对应的触点接触，通电测试电路板的导通情况，一般电路板上的元器件都是通过焊接的方式与电路板固定接触的，测试芯片由于频繁更换，导致其无法焊接在测试电路板上进行测试，因此就需要借助测试座。现有的测试座辅助芯片的方式是，芯片的引脚插入测试座上开设的引脚插槽内固定，并露出测试座的底部，测试座固定在测试电路板的指定位置正上方后，芯片的引脚正好接触到测试电路板上对应的触点。
2、现有的芯片测试座的测试槽大小都是固定的，因此无法适配不同大小尺寸的芯片，实际操作非常不便，因此有必要设计一种芯片测试座。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，本技术提供一种芯片测试座。
2、本技术提供的一种芯片测试座采用如下的技术方案：
3、一种芯片测试座，包括底座和测试座，所述测试座设置在所述底座上，...
【技术保护点】
1.一种芯片测试座，其特征在于：包括底座(1)和测试座，所述测试座设置在所述底座(1)上，所述测试座包括测试座一(2)和测试座二(3)，所述测试座一(2)固定设置在所述底座(1)上，所述测试座二(3)滑动设置在所述底座(1)上，所述测试座一(2)上设置有放置槽(4)，所述放置槽(4)的内壁开设有若干引脚槽(7)，所述测试座二(3)相对的一侧也设置有若干引脚槽(7)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：还包括调节机构(5)，所述调节机构(5)包括固定座(51)、螺杆(52)、弹簧(53)、限位片(54)和螺母(55)，所述螺杆(52)的两端...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试座，其特征在于：包括底座(1)和测试座，所述测试座设置在所述底座(1)上，所述测试座包括测试座一(2)和测试座二(3)，所述测试座一(2)固定设置在所述底座(1)上，所述测试座二(3)滑动设置在所述底座(1)上，所述测试座一(2)上设置有放置槽(4)，所述放置槽(4)的内壁开设有若干引脚槽(7)，所述测试座二(3)相对的一侧也设置有若干引脚槽(7)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座，其特征在于：还包括调节机构(5)，所述调节机构(5)包括固定座(51)、螺杆(52)、弹簧(53)、限位片(54)和螺母(55)，所述螺杆(52)的两端分别连接所述固定座(51)，所述固定座(51)设置在所述底座(1)上，所述螺母(55)设置在所述螺杆(52)上。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试座，其特征在于：所述测试座二(3)的外壁上设置有连接块(6)，所述连接块(6)上开设有通孔，所述螺杆(52)穿过所述通孔，所述螺母(55)抵接所述连接块(6)，所述限位片(54)固定在所述螺杆(5...
【专利技术属性】
技术研发人员：冷祥，刘志华，凡皓雪，
申请(专利权)人：无锡市华辰芯光半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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